高可靠性的cypress非同步SRAM

宇芯電子發表於2020-08-19

Cypress半導體公司生產高效能SRAM產品,用於資料傳輸、遠端通訊、PC和軍用系統。非同步快速儲存器晶片簡稱為:AsyncSRAM,速度一般在8/10/15ns,電壓範圍在1.65V~5V,可以滿足大部分應用的電壓設計。 宇芯電子本篇文章將介紹具有高可靠性的cypress非同步SRAM產品。
 
憑藉可滿足各種高可靠性工業,通訊,資料處理,醫療,消費和軍事應用的效能,快速和微功耗,
器件可提供片上ECC。這些器件具有與上一代非同步SRAM相容的外形匹配功能。這使您無需投資PCB重新設計就可以提高系統可靠性。
 

 

具有ECC框圖的快速SRAM

 
 
高可靠性:軟錯誤率<0.1FIT/Mbit
ERR引腳指示單位錯誤
密度選項:4Mbit,8Mbit,16Mbit
快速訪問時間:10ns(FAST)
超低待機電流:8.7μA(4MbitMoBL®)
匯流排寬度配置:x8,x16和x32
寬工作電壓範圍:1.8-5.0V
工業和汽車溫度等級
 
PowerSnooze™
 

具有PowerSnooze框圖的快速SRAM

 
賽普拉斯是第一家提供新器件系列的SRAM製造商,該器件系列將快速非同步SRAM的訪問時間與獨特的超低功耗睡眠模式(Power Snooze™)相結合。具有Power Snooze的快速SRAM消除了
應用中效能與功耗之間的折衷。在這個新的裝置系列中,透過提供一種稱為Power Snooze的新型超低功耗睡眠模式,可以實現現有產品系列的最佳功能。Power Snooze是標準非同步SRAM操作模式(活動,待機和資料保留)的附加操作模式。深度睡眠引腳(DS#)使器件可以在高效能活動模式和超低功耗Power Snooze模式之間切換。在4Mbit器件上的深度睡眠電流低至15μA時,
 
非同步SRAM技術增強

糾錯碼(ECC)
 
賽普拉斯最新一代的非同步SRAM器件使用(38,32)漢明碼ECC進行單位錯誤檢測和糾正。賽普拉斯超可靠非同步SRAM中的硬體ECC模組可線上執行所有與ECC相關的功能,而無需使用者干預。
 
多位交織
 
高能量的地外輻射會翻轉多個相鄰位,從而導致多位錯誤。糾錯碼的單位元錯誤檢測和糾正功能透過位元交織方案進行了補充,以防止出現多位元錯誤。
 
這些功能加在一起,可以顯著改善軟錯誤率(SER)效能,從而導致業界領先的FIT率低於0.1FIT/Mbit。
 

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