聚焦快閃記憶體核心部件，浪潮儲存重新定義SSD可靠性

北京2021年12月29日 /美通社/ -- 企業級SSD作為數字資訊時代的主要儲存介質，技術水準要求相當苛刻，浪潮在核心部件SSD領域歷經多年探索，研發和打磨，推出了NVMe SSD產品，已經在網際網路，通訊，金融、政府、企業等關鍵領域實現規模部署，並得到了市場的檢驗和認可，浪潮自研SSD高可靠性的高階品質是科技創新與工匠精神的極致追求。

NAND Flash作為SSD的關鍵核心器件，成本佔整體成本的比例高達80%以上，對NAND特性分析成為SSD產品可靠性的關鍵核心要素，獲取輸出精準的NAND驗證引數對SSD的可靠性和效能至關重要。

MTBF(Mean time between failures,平均無故障時間)和UBER（Uncorrectable Bit Error Rate，不可修復的錯誤位元率）是SSD可靠性上最兩個重要指標，分別對應RDT(Reliability Demonstration Test，可靠度驗證測試)測試的Quarlity Test和Endurance Test，UBER主要驗證NAND壽命和糾錯能力，MTBF也包含糾錯能力。糾錯能力除NAND本身質量外，產品可靠性主要依賴於NAND糾錯引數的準確性，而NAND特性驗證基於NAND治具平臺輸出NAND引數供FW韌體使用，引數中就包含糾錯引數，同時也為SSD效能(主要是QoS)提供引數支援，比如糾錯引數的成功率，Suspend相關引數功能等。

浪潮為獲得產品的超高可靠性，面向SLC/MLC/TLC/QLC等快閃記憶體顆粒自主開發出了NAND Prober HX9000系列分析治具，可以提供介質特性分析、壽命檢測、穩定性追蹤的NAND特性測試專案，採用了行業領先的智慧高溫控制器和自主創新的P/E Block讀寫演算法並行收集快閃記憶體介質的實時狀態，支援NAND介質High Level指令集和Low Level指令集，圖形化介面，全方位監測介質實時狀態，透過開放的API（Application Programming Interface，應用程式介面）介面，為使用者提供自定義的介質特性控制、監測和狀態資料收集服務，裝置購置和擁有成本有效的進行了降低。

敏捷開放，使測試更全更加精準

採用可靈活敏捷替換的NAND Socket槽，支援多個品牌和SLC/MLC/TLC/QLC多種型別NAND Flash儲存顆粒。

命令與隨機數支援更靈活，針對NAND介質特性同時支援高階指令（High level commands）和低階指令（Low level commands），可以自由按需擴充套件，動態生成匹配晶片的隨機數，特性測試結果更精準。

特性收集API介面更開放，根據特性分析需求定向收集狀態資料，上位機和下位機原始碼自主設計研發，全開放的API可以靈活收集狀態資料和可借鑑的特性分析經驗。

精準溫控，保障品質

市面上NAND分析治具均存在感測器與NAND溫度不相符的情況，導致不能精準對產品可靠性進行模擬評估。浪潮透過建立感測器溫度與NAND溫度對應表和動態調溫成功解決了此問題，數顯溫度控制器智慧設定NAND環境溫度，針對NAND溫控精細化需求定製溫度控制器，實現智慧設定、實時監控NAND Flash環境溫度，更精準的評估SSD的可靠性。

 

精益求精，可靠性提升 30%

浪潮自研SSD透過NAND治具獲取精準的狀態資料並進行靈活的NAND特性演算法分析，投入上千塊SSD進行真實測評，全面的NAND引數掌握，創新的特性分析演算法和豐富的產品化經驗，提前規避整盤的設計風險，不斷突破產品可靠性指標，使得平均無故障時間MTBF達到了260萬小時，可靠性相比業內其他產品提升30%。

浪潮SSD產品開發或NAND Flash主控晶片研發中透過使用NAND Prober測試分析儀，提升了快閃記憶體主控晶片的設計、最佳化了效能、提升了介質壽命管控效率，有效提升主控晶片特性、最佳化SSD整盤效能和可靠性，同時可以用於儲存介質的新特性和新材料研究，支撐對傳統介質新特性和新介質新特性的測試、收集和分析，為未來產品的開發提供了重要參考。

未來浪潮儲存將秉承“雲存智用運籌新資料”的儲存理念，在儲存基礎領域不斷下沉研發創新，掌握底層硬體關鍵核心技術，以領先技術助力關鍵行業全面釋放資料價值，加速數字化轉型。