聚焦快閃記憶體核心部件,浪潮儲存重新定義SSD可靠性

全球TMT發表於2021-12-29

北京2021年12月29日 /美通社/ -- 企業級SSD作為數字資訊時代的主要儲存介質,技術水準要求相當苛刻,浪潮在核心部件SSD領域歷經多年探索,研發和打磨,推出了NVMe SSD產品,已經在網際網路,通訊,金融、政府、企業等關鍵領域實現規模部署,並得到了市場的檢驗和認可,浪潮自研SSD高可靠性的高階品質是科技創新與工匠精神的極致追求。

NAND Flash作為SSD的關鍵核心器件,成本佔整體成本的比例高達80%以上,對NAND特性分析成為SSD產品可靠性的關鍵核心要素,獲取輸出精準的NAND驗證引數對SSD的可靠性和效能至關重要。

MTBF(Mean time between failures,平均無故障時間)和UBER(Uncorrectable Bit Error Rate,不可修復的錯誤位元率)是SSD可靠性上最兩個重要指標,分別對應RDT(Reliability Demonstration Test,可靠度驗證測試)測試的Quarlity Test和Endurance Test,UBER主要驗證NAND壽命和糾錯能力,MTBF也包含糾錯能力。糾錯能力除NAND本身質量外,產品可靠性主要依賴於NAND糾錯引數的準確性,而NAND特性驗證基於NAND治具平臺輸出NAND引數供FW韌體使用,引數中就包含糾錯引數,同時也為SSD效能(主要是QoS)提供引數支援,比如糾錯引數的成功率,Suspend相關引數功能等。

浪潮為獲得產品的超高可靠性,面向SLC/MLC/TLC/QLC等快閃記憶體顆粒自主開發出了NAND Prober HX9000系列分析治具,可以提供介質特性分析、壽命檢測、穩定性追蹤的NAND特性測試專案,採用了行業領先的智慧高溫控制器和自主創新的P/E Block讀寫演算法並行收集快閃記憶體介質的實時狀態,支援NAND介質High Level指令集和Low Level指令集,圖形化介面,全方位監測介質實時狀態,通過開放的API(Application Programming Interface,應用程式介面)介面,為使用者提供自定義的介質特性控制、監測和狀態資料收集服務,裝置購置和擁有成本有效的進行了降低。

敏捷開放,使測試更全更加精準

採用可靈活敏捷替換的NAND Socket槽,支援多個品牌和SLC/MLC/TLC/QLC多種型別NAND Flash儲存顆粒。

命令與隨機數支援更靈活,針對NAND介質特性同時支援高階指令(High level commands)和低階指令(Low level commands),可以自由按需擴充套件,動態生成匹配晶片的隨機數,特性測試結果更精準。

特性收集API介面更開放,根據特性分析需求定向收集狀態資料,上位機和下位機原始碼自主設計研發,全開放的API可以靈活收集狀態資料和可借鑑的特性分析經驗。

精準溫控,保障品質

市面上NAND分析治具均存在感測器與NAND溫度不相符的情況,導致不能精準對產品可靠性進行模擬評估。浪潮通過建立感測器溫度與NAND溫度對應表和動態調溫成功解決了此問題,數顯溫度控制器智慧設定NAND環境溫度,針對NAND溫控精細化需求定製溫度控制器,實現智慧設定、實時監控NAND Flash環境溫度,更精準的評估SSD的可靠性。

數字顯示
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溫控晶片
溫控晶片

精益求精,可靠性提升 30%

浪潮自研SSD通過NAND治具獲取精準的狀態資料並進行靈活的NAND特性演算法分析,投入上千塊SSD進行真實測評,全面的NAND引數掌握,創新的特性分析演算法和豐富的產品化經驗,提前規避整盤的設計風險,不斷突破產品可靠性指標,使得平均無故障時間MTBF達到了260萬小時,可靠性相比業內其他產品提升30%。

浪潮SSD產品開發或NAND Flash主控晶片研發中通過使用NAND Prober測試分析儀,提升了快閃記憶體主控晶片的設計、優化了效能、提升了介質壽命管控效率,有效提升主控晶片特性、優化SSD整盤效能和可靠性,同時可以用於儲存介質的新特性和新材料研究,支撐對傳統介質新特性和新介質新特性的測試、收集和分析,為未來產品的開發提供了重要參考。

未來浪潮儲存將秉承“雲存智用運籌新資料”的儲存理念,在儲存基礎領域不斷下沉研發創新,掌握底層硬體關鍵核心技術,以領先技術助力關鍵行業全面釋放資料價值,加速數字化轉型。


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