[轉載]利用近場探頭和頻譜儀查詢EMI輻射問題

karlchen發表於2016-01-12

原文連結 http://www.pesmatrix.com/news/html/?412.html

電磁相容性(Electromagnetic Compatibility,簡稱EMC)是指裝置或系統在其電磁環境中符合要求執行並不對其環境中的任何裝置產生無法忍受的電磁干擾的能力。因此,EMC包括兩個方面的要求:一方面是指裝置在正常執行過程中對所在環境產生的電磁干擾不能超過一定的限值,即電磁干擾(Electromagnetic Interference 簡稱EMI);另一方面是指器件對所在環境中存在的電磁干擾具有一定程度的抗擾度,即電磁敏感性(Electro Magnetic Susceptibility,簡稱EMS)。

 

電磁干擾(Electromagnetic Interference 簡稱EMI)又分為傳導干擾和輻射干擾兩種。傳導干擾是指通過導電介質把一個電網路上的訊號耦合(干擾)到另一個電網路。輻射干擾是指干擾源通過空間把其訊號耦合(干擾)到另一個電網路,在高速PCB及系統設計中,高頻訊號線、積體電路的引腳、各類接外掛等都可能成為具有天線特性的輻射干擾源,能發射電磁波並影響其他系統或本系統內其他子系統的正常工作。

傳統的EMI輻射測試往往藉助EMI接收機,在專業實驗室的暗室裡進行,這固然可以對產品的整體EMI輻射做嚴格的測試,但往往測試周期長、費用較高,加之遠場測試只能測出結果,而不能給出具體輻射的位置,所以給產品的設計和改善帶來不小的麻煩。隨著測試測量儀器的發展,近幾年,近場探頭和頻譜分析儀的組合個EMI輻射的測試定位帶來了新的方向。

下圖為採用一個近場探頭和實時頻譜分析儀對一個電路進行輻射源的查詢,我們可以很清楚的觀測到在近場探頭附件有四個主要頻率的輻射,這對於硬體工程師進行設計的改善是具有極大幫助的。

 

 

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