MT6169 PVT時間掩碼測試中的TPC事件定時和修改MIPI TX資料介紹

Modify MIPI TX & TPC event Timing for PVT Time mask test--MT6169

原資料介紹：

1. 調整Timing 的時候，請調到剛好的位置不用留太多margin，太接近boundary 有些CMW500 TX throughput會fail，ex: PA on time =9us 時time mask會fail，PA on time=8us Pass，那就用8us.

2. TDD band 可以先試著把ASM往boundary調。(page.7)

3. PA on的Timing 應該要在TPC之前! (Page.6)

4.因CMW500解調能力較差，請務必試過CMW500 的TX throughput. 

5. BPI 的Timing 請依照PT1 => PT2 => TPC (4us) 的時間順序。

資料包括以下內容：

Step 1: 確認PA on event 是否在最低檔位

Step 2: 依照FDD/TDD band 調整event timing

Step 3: Check

Other questions

4.Other questions

1）目前Fail都是在Before off的地方，那麼為什麼將TX的時間設定為提前開啟呢？

---在LTE spec中定義的time mask for PUSCH/PUCCH，ramping時間其實是壓到TX data的前面20 us，如果我們完全依據spec設定，TX data就會在每次開window時遭到suffer，導致UL throughput變差(某些解調能力較差的儀器就是會

因為第一個TX symbol的data遭到suffer，就解不出來而導致test fail)，可以透過觀察Tx 的第一個symbol EVM是否變差來排查 ，所以目前的做法都是在不被儀器檢測出違反time mask的前提下，儘早將元件提早開啟。

2）哪些引數都可以改善General on/off指標呢？

---PA ON、 TPC ON 及開關的開啟時間對於time mask都會有影響，由於不同的PA、matching的不同及走線不同，時間上稍微有差異性，後期可能要依據不同的手機tuning元件的開啟時間，目前關於MIPI PA時間及BPI的邏輯狀態修改已經在Nvram中開放，後續會進一步開放BPI的時序引數。