高通平臺（Qualcomm Snapdragon）檢測充電器型別SDP（Standard Downstream Port，標準下行埠）、CDP（Charging Downstream Port，充電下行埠）和DCP（Dedicated Charging Port，專用充電埠）是基於USB Battery Charging Specification 1.2（USB BC1.2）或更高版本的規定實現的。這些充電型別主要是透過檢測USB資料線上的特定電壓訊號來判斷。
以下是檢測過程的簡化概述：
1. SDP檢測：
- SDP是最基礎的USB充電方式，裝置假定透過USB埠可以獲得的最大電流為500mA（USB 2.0規範）。
- 對於SDP，無需特別的檢測過程，只要檢測到USB連線且沒有額外的充電指示訊號，就認為是SDP。
2. CDP檢測：
- CDP在D+和D-資料線上有特定的電壓配置，通常是D+為高電平（約3.3V），D-為接地（GND）。
- 裝置透過檢測資料線上的電壓組合來識別是否為CDP，並得知它可以請求超過500mA的電流進行充電。
3. DCP檢測：
- DCP同樣透過資料線上的特定電壓配置來識別，通常有兩種情況：
- D+和D-都為低電平（約為0.6V），表明是DCP；
- 對於某些裝置，也可能檢測到D+為高電平（約2.7V到3.6V），D-為低電平，這也可能表示為DCP（依據BC1.2規範的修訂版）。在高通平臺上，這些檢測過程通常由USB控制器或者電源管理晶片執行，作業系統透過讀取這些硬體檢測的結果，進而確定充電器型別並調整充電策略。在某些裝置上，這些資訊可能也會透過系統軟體展示給使用者，例如顯示“正在快速充電”等狀態。