鑲嵌資料集工具小結（四）鑲嵌資料集的屬性 Ⅰ

設定鑲嵌資料集屬性工具 Ⅰ

我們可在鑲嵌資料集屬性視窗看到 General，Default，Key MetaData 三個選項卡。

- General 中包含了類似單個柵格資料集的屬性資訊，例如像元大小、像元型別、位深、範圍等等資訊，詳情可以戳 這裡，不再贅述；

- Default 選項卡中包含了一些鑲嵌資料集所特有的屬性，這些屬性將會影響客戶端檢視鑲嵌資料集的顯示方式和互動方式；

- 如果為鑲嵌資料集定義了產品定義，則 Key Metadata 將來自產品定義，Key Metadata 包含了用於渲染和一些處理過程的波段和波長資訊。

★ 需要注意的是，如果我們在圖層列表中去修改鑲嵌資料集的預設屬性，這種修改不會儲存到鑲嵌資料集內部，因此當移除圖層，這些設定就失效了。圖層上的修改，一般用於臨時檢視修改效果，或者多個使用者訪問鑲嵌資料集，並且希望自己的修改不影響到其他人。

而我們在Catalog中，鑲嵌資料集的屬性中設定的屬性是儲存在鑲嵌資料集中。 需要了解Default 選顯示卡中各個屬性項的作用和對鑲嵌資料集的影響，非常詳細的說明就戳 這裡，注意其中部分引數僅適用於鑲嵌資料集作為 Image Service 釋出和訪問的情形。

在工具箱中提供了一個可以設定這些屬性的工具 Set Mosaic Dataset Properties 關於這個工具，我就結合鑲嵌資料集屬性來說明各個引數的作用和適用情況。由於這是一個很多很多引數的工具，這一篇先說說影像屬性部分的引數吧。

影像屬性

Maximum Size Of Requests：

控制每次生成鑲嵌影像時的最大行數和列數。僅當將鑲嵌資料集作為影像服務而釋出和訪問時，此屬性才適用。

Allowed Compression Methods：

定義將鑲嵌影像從伺服器傳輸到客戶端時所使用的壓縮方法。如果通過 LAN 訪問影像服務，即使資料量很大也不會引發問題。但通過速度較慢的 Internet 連線訪問時，最好在傳輸前對影像進行壓縮。壓縮會減小傳輸影像的大小，但伺服器需要先對資料進行壓縮，因而增添了額外負荷。如下是幾種壓縮方法的整理：

None —— 不壓縮影像，這可以提供最高質量的影像，但是在網路中需要傳輸的資料量最大。

LZ77 —— 一種高效的無失真壓縮方法，推薦用於具有相似畫素值（離散資料）的影像，例如掃描的地圖或分類後的影像。

JPEG —— 一種高效的壓縮方法，它通常可將影像壓縮三至八倍，但在影像質量上有輕微損失。如果選擇 JPEG 方法，也可通過輸入 0 至 100 之間的任意值來編輯質量。值 80 提供大約 8 倍的壓縮，通常能夠保證影像質量。

LERC —— 一種高效的有失真壓縮方法，推薦用於具有較大畫素深度的資料（如浮點型、32 位、16 位或 12 位資料）。選擇此方法時，需要指定代表每個畫素所適用的最大錯誤值的質量值。該值以鑲嵌資料集的單位指定。例如，如果誤差為 10 釐米而鑲嵌資料集的單位為米，則輸入 0.1。對於浮點型資料，LERC 比 LZ77 的壓縮效果好 5 到 10 倍，壓縮速度快 5 到 10 倍；對於整型資料，LERC 的壓縮效果和壓縮速度更優於 LZ77。使用整型資料並且指定的錯誤限制為 0.99 或更低時，LERC 相當於無失真壓縮。

Default Resampling Method：

NEAREST —— 使用最鄰近取樣法可獲得較精確的輻射度值。這種方法通常速度較快，但會導致要素的邊呈鋸齒狀。

BILINEAR —— 雙線性插值法可提供較平滑的影像，但會導致某些影像被濾除掉。對於連續柵格資料，建議使用雙線性插值法。

CUBIC —— 與雙線性插值相比，三次卷積插值法生成的幾何更加精確，但速度較之稍慢。

MAJORITY —— 眾數法最適用於離散資料。

Clip to Footprint：

許多情況下，柵格和輪廓線是相同的，但當它們不同時，您可以指定是否裁剪柵格。

Footprints May Contain NoData：

指定鑲嵌資料集的輪廓線是否包含 NoData 的畫素。如果選擇包含，可以確保footprint中不包含洞。

Clip To Boundary：

指定是否要裁剪鑲嵌資料集的影像到邊界，或顯示整個鑲嵌影像。

Color Correction：

設定是否啟用為鑲嵌資料集設定的色彩校正

Allowed Mensuration Capabilities：

None — 不使用任何測量功能；

Basic — 允許計算距離、點、質心和麵積；

Base-Top Height — 允許測量底部至頂層高度。要執行底部至頂層高度測量，需要有理多項式係數 (RPC) 資訊

Base-Top Shadow Height — 允許測量底部至頂層陰影高度。要執行底部至頂層陰影高度測量，需要太陽方位角和太陽高程資訊。

Top-Top Shadow Height —  允許測量頂部至頂部陰影高度。要執行此測量，需要太陽方位角、太陽高程和有理多項式係數 (RPC) 資訊。

3D — DEM 可用時，可進行 3D 測量。

具體對應的測量工具，我們可以在 Image Analysis 視窗中使用。

有關影像測量這一塊將來如果有時間會單獨整理一下，這裡不再插入了，不然篇幅過長了。

Data Source Type：

Generic - 通用型別，鑲嵌資料集沒有指定的資料型別。

Thematic - 鑲嵌資料集為專題型，專題資料具有離散值。

Processed - 鑲嵌資料集已得到處理。鑲嵌資料集的顏色已經過調整。

Evelation - 鑲嵌資料集包含高程資料。

琳琅滿目的影像屬性引數就說到這裡，下一篇接著說設定鑲嵌資料集屬性中的鑲嵌屬性引數。