科研日記4【2024-06-06】

Fangrx發表於2024-06-07
原文網址 : https://www.cnblogs.com/fangrx/p/18234605

實驗

  1. 高度向稀疏取樣造成的整行缺失使得在高度向上出現嚴重混疊現象， 對高度向稀疏取樣的資料首先利用線性插值恢復補全，再將部分插值去掉，以模擬二維隨機降取樣。
    實驗結果說明上述方法並不好。
    高度向50%稀疏直接成像：

    高度向50%稀疏-不動迭代成像：

    高度向50%稀疏-線性插值後成像：

    高度向50%稀疏-線性插值後不動點迭代成像：

    高度向50%稀疏-線性插值後再隨機降取樣後不動點迭代成像：

  2. 思考是否可以採用更合適的插值方法擬合原始取樣資料
    目的是首先利用插值技術恢復缺失的取樣資料，而後利用經典匹配濾波的方法重建影像。
    插值技術研究：https://www.cnblogs.com/fangrx/p/18236570

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