BIST測試技術，內建自測（Built-inSelfTest）
http://www.hudong.com/wiki/BIST
Built-inSelfTest簡稱BIST是在設計時在電路中植入相關功能電路用於提供自我測試功能的技術，以此降低器件測試對自動測試裝置（ATE）的依賴程度。BIST是一種DFT（DesignforTestability）技術，它可以應用於幾乎所有電路，因此在半導體工業被廣泛應用。舉例來說，在DRAM中普遍使用的BIST技術包括在電路中植入測試圖形發生電路，時序電路，模式選擇電路和除錯測試電路。BIST技術的快速發展很大的原因是由於居高不下的ATE成本和電路的高複雜度。現在，高度整合的電路被廣泛應用，測試這些電路需要高速的混合訊號測試裝置。BIST技術可以通過實現自我測試從而減少對ATE的需求。
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